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Keithley étend son logiciel KTEI aux tests des mémoires permanentes et aux mesures C-V à très basses fréquences
Keithley vient d'éditer sur CD un recueil de séminaires sur la nanotechnologie que l’on peut se procurer en ligne
Keithley Instruments annonce un nouvel instrument de la série SourceMeter® orienté sur le test des semi-conducteurs de puissance
2011 NCSLI • NCSL International 50th Anniversary Celebration
National Harbor, MD • August 22-24, 2011
ICSCRM 2011
International Conference on Silicon Carbide and Related Materials
Cleveland, OH • Renaissance Cleveland Hotel
September 12-16, 2011
MRS Materials Research Society FALL
Boston, MA • Nov. 28-Dec. 2, 2011
